产品
优可测白光干涉仪, 可用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，以“面”的形式获取表面3D形貌，通过专用软件对3D形貌进行数据处理和分析。
光谱共焦位移传感器 AP系列
ER 230
EX 230
NA 500
3D线激光传感器
应用
芯片高度测量
使用EX230, 20X测量镜头
芯片尺寸测量
使用EX230，20X测量镜头
微流道测量
心血管支架粗糙度测量
铜箔粗糙度测量
液晶膜类测量
晶圆表面蚀刻测量
0.05nm 镜片粗糙度
柱面镜阵列
采用 50X 弥耳干涉物镜和垂直干涉扫描法（VSI）
齿轮拼接测量粗糙度
电容元器件表面测量
化妆品云母表面形貌粗糙度
采用 10X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法（VSI）
超光滑镜面拼接粗糙度测量
测量使用 20X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉（VSI）
镜片模具测量
采用 20x 迈克尔逊干涉物镜和垂直扫面干涉法（VSI）
PCB尺寸测量
通过100X 弥耳干涉物镜和垂直扫描干涉法
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