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薄膜厚度测量仪 AF系列
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    薄膜厚度测量仪 AF系列
    超高精度/多层测量/场景丰富
    高精度 膜厚 Mapping模式
    偏差精准校正，实现超高分辨率；毫秒级别采样频率，比传统膜厚仪提升2~3倍更合适在线使用！支持Mapping模式，自动快速测量，单点时间＜0.5s，兼容2-12寸晶圆片。
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