产品中心
行业应用
服务与支持
资讯
知识中心
关于我们
联系我们
400-080-3885
中文
English
传感器
激光位移传感器 SL系列
3D线激光测量仪 AR系列
光谱共焦位移传感器 AP系列
3D线光谱共焦传感器 AS系列
影像测量/闪测仪
一键式影像测量仪 FM系列
粗糙度/台阶/三维形貌/厚度测量
白光干涉仪AM系列
晶圆三维检测 WM系列
晶圆三维量测 WPM系列
晶圆厚度/TTV/翘曲自动测量设备 APS系列
封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
显微镜/数码显微镜
超景深数码显微镜 AH系列
膜厚/周期性3D结构测量
衍射三维形貌仪 NM系列
薄膜厚度测量仪 AF系列
行业
新能源
3C消费类
半导体
材料
工具
精密光学
精密加工
显示面板
医疗
摩擦磨损
微纳加工
汽车
应用
粗糙度
高度/高度差
三维形貌
三维尺寸
摆动震动
定位
二维尺寸
膜厚
平面度
厚度
台阶高度
二维轮廓
样机演示/测试
下载中心
售后服务
公司新闻
行业案例
知识科普
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
首页
产品中心
传感器
影像测量/闪测仪
粗糙度/台阶/三维形貌/厚度测量
显微镜/数码显微镜
膜厚/周期性3D结构测量
行业应用
行业
应用
服务与支持
样机演示/测试
下载中心
售后服务
资讯
公司新闻
行业案例
知识科普
知识中心
机械加工入门
几何公差学习
测量知识
粗糙度学习
优可测产品知识
关于我们
公司简介
企业文化
发展历程
荣誉资质
合作客户
人才招聘
联系我们
首页
-
产品中心
-
膜厚/周期性3D结构测量
-
衍射三维形貌仪 NM系列
产品对比
返回列表
衍射三维形貌仪 NM系列
膜厚/周期性3D结构测量
概述
应用示例
下载
马上咨询
衍射三维形貌仪 NM系列
膜厚/周期性3D结构测量
概述
应用示例
下载
马上咨询
衍射三维形貌仪 NM系列
光栅尺寸新一代测量解决方案
膜厚
占空比
侧壁角
高效
精准
通过光学正向建模算法得到的仿真光学参数，与实际测量的光学参数进行比对；利用LM算法、库匹配、神经网络算法， 提取出样品光栅的占空比、厚度与侧壁角等结构参数。
下载目录
马上咨询
应用示例
三维形貌
APIVR结构光栅
DRAM
NAND
光通讯硅波导
光学薄膜
下载
衍射三维形貌仪NM系列
产品画册
点击下载
相关产品
薄膜厚度测量仪 AF系列
高精度
膜厚
Mapping模式
Learn More
