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首页 - 产品中心 - 粗糙度测量/台阶测量/三维形貌 - 封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
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封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
粗糙度测量/台阶测量/三维形貌
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    封装基板3D自动检测设备 Elite Pro系列
    一站式封装基板三维检测解决方案
    粗糙度 平面度 三维形貌
    超快扫描速度：35um/s(最快400um/s）垂直扫描速度，是传统机型的5倍； 全自动测量：极简操作，轻松在线编程设定，自动测量； 离线分析：可调取原始数据进行二次特定分析； 离线编辑：通过ODB++程序进行离线编辑 （选购）； 丰富的测量功能。
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